定性與定量分析
（一）、定性分析
定性分析是X熒光光譜分析的基礎(chǔ)，因?yàn)橹挥袕?a style="margin: 0px; padding: 0px;">儀器獲得的譜圖中辨認(rèn)峰譜，才能知道待測(cè)試樣中還有那些元素，并且分析待測(cè)元素的主要譜線，以及常見(jiàn)的干擾譜線，以便選擇合適的測(cè)量譜線，用于定量分析方法，確定譜線的重疊校正方法，選擇校正元素，終達(dá)到準(zhǔn)確測(cè)試樣品的效果。
定性分析的方法：
1、 判斷儀器的能量刻度是否正確，可以用已知元素的樣品進(jìn)行測(cè)試，觀察是否能夠正確識(shí)別樣品中的元素。如果不正確，需要重新建立能量刻度。
2、 首先判斷X光管靶材的特征峰位。其峰位處的峰譜，可能不是樣品所含有的元素。
3、 分辨元素峰譜的K線和L線，一般情況下，52＃（Te，碲）元素以前的元素，大多測(cè)試其K線，但35＃～52#之間的元素，其L線也可以被檢測(cè)出來(lái)，同時(shí)它的L線會(huì)對(duì)輕元素測(cè)量產(chǎn)生影響。52＃以后的元素一般測(cè)試其L線。
4、 K線一般有K線必然有K線，線的強(qiáng)度比例在5:1左右，L線必然有L、L…等4條線，在判斷是否是某元素時(shí)必須考慮這一因素。
5、 觀察各個(gè)線之間的干擾，找到干擾的元素線系，并確定重疊干擾線之間的影響程度。
（二）、定量分析
X熒光的定量分析可以簡(jiǎn)化為以下公式，它受四種因素影響：
Ci＝KiIiMiSi
式中：C為待測(cè)元素的濃度，下標(biāo)I式待測(cè)元素；K為儀器的校正因子；I式測(cè)得的待測(cè)元素X射線熒光強(qiáng)度，經(jīng)過(guò)背景、譜重疊和死時(shí)間校正后，獲得的純強(qiáng)度。M式元素間的吸收和增強(qiáng)效應(yīng)校正。S與樣品的物理形態(tài)有關(guān)，如試樣的均勻性、厚度、表面結(jié)果等，要通過(guò)制樣來(lái)消除。
根據(jù)以上的簡(jiǎn)化公式，可以將定量分析的方法分為以下幾個(gè)步驟：
① 根據(jù)樣品的物理形態(tài)和對(duì)分析精度與準(zhǔn)確度要求，決定采用何種的制樣方法。確定了制樣方法后，應(yīng)了解制樣的誤差主要因素，應(yīng)該在方法中加以注意。
② 用標(biāo)準(zhǔn)樣品確定的分析條件，如：X射線管的管壓，管流，原級(jí)譜濾光片，測(cè)量時(shí)間等。
③ 確定強(qiáng)度的提取方法。
④ 制作工作曲線。
⑤ 用標(biāo)準(zhǔn)樣品驗(yàn)證分析方法的可靠性及分析數(shù)據(jù)的不確定度。
